渦流膜厚度計DS-110

通過晶體振蕩
，曲面/球面對也可以實現(xiàn)高精度和短測量時間

·測量值顯示為數(shù)字型，易于讀取
·開啟時測量同時開始，測量時間小于1秒
·高穩(wěn)定性（±1％）高精度
· 石英振蕩法無損檢測
·可直接讀取因為轉(zhuǎn)換是不必要的

渦流膜厚度計DS-110的特點

易于閱讀的數(shù)字類型

測量值顯示是數(shù)字的，易于閱讀。

可以立即進行測量

可以在打開開關(guān)的同時進行測量。測量時間也在1秒內(nèi)。

高穩(wěn)定性（±1％）高精度

通過晶體振蕩方法實現(xiàn)高穩(wěn)定性（±1％）的高精度。

可以檢查

由于它是非破壞性的，因此可以進行檢查。

無需轉(zhuǎn)換

無需直接閱讀和轉(zhuǎn)換。

支持各種測量

它可以測量金屬上的薄膜，電鍍，涂漆，樹脂等。（例如：鋁上的氧化膜，鐵上的鋅電鍍等）

多可保存1000個數(shù)據(jù)

可以使用一條檢查線存儲1000個數(shù)據(jù)。

非金屬上金屬薄膜的測量

它可以測量非金屬上的金屬薄膜（例如塑料上的鍍層）。

標(biāo)準(zhǔn)可以多測量70種薄膜厚度

通過切換開關(guān)，您可以測量多達(dá)四種類型的薄膜厚度。此外，通過更換制造商的檢查線，可以進行70多種膜厚測量。

在曲面，球體或管道內(nèi)也可以進行測量

也可以測量彎曲或球形體。另外，也可以測量管道等的內(nèi)表面（φ12.7mm或更大）。

打印輸出功能

您可以打印出測量數(shù)據(jù)和統(tǒng)計處理值。

測量原理

當(dāng)具有高頻電流的探針（探針線圈）靠近金屬時，在金屬表面中產(chǎn)生渦電流。該渦電流受高頻磁場的強度和頻率，金屬的導(dǎo)電性，厚度和形狀等的影響，并且穿透深度和其尺寸不同。 并且，由于渦電流流動以抵消探頭的高頻磁場，因此探頭的高頻電阻值發(fā)生變化。放大該高頻電阻值的變化，進行曲線校正，并將其顯示為數(shù)字值。因此，膜厚度值可以直接讀作數(shù)字。通過微計算機計算執(zhí)行曲線校正。由于這種高精度，高穩(wěn)定性。

渦流膜厚度計DS-110的規(guī)格

注意：規(guī)格如有更改，恕不另行通知。

渦流薄膜厚度計DS-110的探頭規(guī)格

日本電測膜厚計DS-110 日本電測膜厚計DS-110